メモリカードバッテリ低下エラーの検出可否

できません。《補足説明》次の方法により，検出ことができます。（下図参照）図1

IDユニットのデータキャリアの寿命につい

《答え》寿命は、総交信回数から確認することができます。 IDインタフェースユニットのバッファメモリには、データキャリアとの総交信回数を格納するエリアがあります。（バッファメモリのアドレスK22・K23／K4022・K4

ＡＤ７１（Ｓ１）形位置決めユニットの使用

使用ユニット枚数は使用するＣＰＵの入出力点数の範囲内であれば制限はありません。ただし，基本ベースユニットまたは増設ベースユニットで同一ベースユニットに装着できるユニット枚数は使用する電源ユニットのＤＣ５Ｖ出力容量とベースユニットの各

A大形CC-Linkインタフェースユニッ

CC-Linkのマスタ局として使用できます。

よくあるご質問
(FAQ)

Q: メモリカードバッテリ低下エラーの検出可否

できません。 《補足説明》 次の方法により，検出ことができます。 （下図参照） 図1

Q: IDユニットのデータキャリアの寿命につい

《答え》 寿命は、総交信回数から確認することができます。 IDインタフェースユニットのバッファメモリには、データキャリアとの総交信回数を 格納するエリアがあります。 （バッファメモリのアドレスK22・K23／K4022・K4

Q: ＡＤ７１（Ｓ１）形位置決めユニットの使用

使用ユニット枚数は使用するＣＰＵの入出力点数の範囲内であれば制限はありません。 ただし，基本ベースユニットまたは増設ベースユニットで同一ベースユニットに装着できる ユニット枚数は使用する電源ユニットのＤＣ５Ｖ出力容量とベースユニットの各

よくあるご質問(FAQ)製品について

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『 AnA 』内のFAQ

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メモリカードバッテリ低下エラーの検出可否

できません。《補足説明》次の方法により，検出ことができます。（下図参照）図1 詳細表示
- FAQ番号：14393
- 公開日時：2012/03/28 21:15
IDユニットのデータキャリアの寿命について

《答え》寿命は、総交信回数から確認することができます。 IDインタフェースユニットのバッファメモリには、データキャリアとの総交信回数を格納するエリアがあります。（バッファメモリのアドレスK22・K23／K4022・K4023）このエリアを読み出して総交信回数が200万回を越えたら警告を... 詳細表示
- FAQ番号：14368
- 公開日時：2012/03/28 21:15
ＡＤ７１（Ｓ１）形位置決めユニットの使用枚数の制限

使用ユニット枚数は使用するＣＰＵの入出力点数の範囲内であれば制限はありません。ただし，基本ベースユニットまたは増設ベースユニットで同一ベースユニットに装着できるユニット枚数は使用する電源ユニットのＤＣ５Ｖ出力容量とベースユニットの各ユニットのＤＣ５Ｖの消費電流の合計により決まります。（下図参照） ... 詳細表示
- FAQ番号：14399
- 公開日時：2012/03/28 21:15
A大形CC-LinkインタフェースユニットからA小形への置換え

CC-Linkのマスタ局として使用できます。詳細表示
- FAQ番号：13782
- 公開日時：2012/03/28 21:15